A Research Center on Nanomaterials and Energy
 
Atomic Force Microscope (AFM)
Site : Advanced characterizations component (Room CB-3916)
Contact : Gwenaël Chamoulaud.

Instrument description :


La Microscopie à Force Atomique (AFM) est une technique de microscopie qui permet d’étudier la topographie d'une surface. Pour ceci une pointe très fine (2 à 20 nm à son extrémité) balaye la surface de l'échantillon. Grâce à la détection des forces interatomiques entre la pointe et l'échantillon, une image 3D de la surface est alors reconstituée.

Le Multimode 8 est un AFM à très haute résolution dédié à l’étude des échantillons de petite taille (ADN, ARN, protéines). Il permet d'utiliser plusieurs modes opératoires (contact, tapping, peak force tapping) dans l’air et en milieu liquide.

Equipment Model : Bruker, MultiMode8


Atomic Force Microscope (AFM), Bruker, MultiMode8

Service fees :


Device price setting
Academic ratesIndustrial rates
$5.00/h$50.00/h
  • Add 25$/h to fees is manipulation are made by an operator.
  • Add 15% of administration fee if industrial user.
  • Consumables prices (AFM tips) not included.

Booking Terms :

  • For external users, please, take contact with Gwenaël Chamoulaud.
  • For internal users, every users need to follow a formation with Gwenaël Chamoulaud before use this facility. To make online reservation, click on the link in table below, then click on the day you want to make the booking. A more detailed schedule of the day will appear. You will then be able to book the time that suits to you.
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