Centre de Recherche sur les Nanomateriaux et l'Énergie
 
Microscope à Force Atomique (AFM)
Emplacement : Composante Caractérisations de pointe (Local CB-3916)
Ressource : Gwenaël Chamoulaud.

Description de l'instrument :


La Microscopie à Force Atomique (AFM) est une technique de microscopie qui permet d’étudier la topographie d'une surface. Pour ceci une pointe très fine (2 à 20 nm à son extrémité) balaye la surface de l'échantillon. Grâce à la détection des forces interatomiques entre la pointe et l'échantillon, une image 3D de la surface est alors reconstituée.

Le Multimode 8 est un AFM à très haute résolution dédié à l’étude des échantillons de petite taille (ADN, ARN, protéines). Il permet d'utiliser plusieurs modes opératoires (contact, tapping, peak force tapping) dans l’air et en milieu liquide.

Modèle de l'équipement : Bruker, MultiMode8


Microscope à Force Atomique (AFM), Bruker, MultiMode8

Frais d'utilisation :


Tarification de l'instrument
Tarifs académiquesTarifs industriels
$6.25/h$62.50/h
  • Ajouter $40.00 / h si les manipulations sont effectuées par un opérateur.
  • Ajouter 15% de frais administratifs si utilisateur industriel.
  • Prix des consommables (pointes AFM) non inclu.

Modalités de Réservation :

  • Pour les usagers externes, communiquer avec Gwenaël Chamoulaud.
  • Pour les usagers internes, tous les utilisateurs doivent suivre une formation avec Gwenaël Chamoulaud avant d’utiliser cet équipement. Pour effectuer une réservation en ligne, cliquer sur le lien dans le tableau ci-dessous, puis cliquer sur la journée concernée. Un horaire détaillé de cette journée apparaîtra. Vous pourrez alors réserver la plage horaire qui vous convient.
  • Pour réserver cet équipement à partir de cette page, cliquez ici.