Centre de Recherche sur les Nanomateriaux et l'Énergie
 
Profilomètre (PRM)
Emplacement : Composante Caractérisations de pointe (Local PK-2273)
Ressource : Galyna Shul ou Gwenaël Chamoulaud.

Description de l'instrument :


Ce profilomètre permet de caractériser la topographie d'une surface avec une résolution latérale de 1nm. Ce instrument permet également d'effectuer des mesures de stress et mapping 3D. Les applications directes de ce type d'instrument sont : la mesure d'épaisseur des couches minces, la mesure du stress, la mesure de rugosité, et la représentation 3D de surfaces.

Modèle de l'équipement : Bruker, Dektak XT


Profilomètre (PRM), Bruker, Dektak XT

Frais d'utilisation :


Tarification de l'instrument
Tarifs académiquesTarifs industriels
$30.00/h$75.00/h
  • Ajouter $40.00 / h si les manipulations sont effectuées par un opérateur.
  • Ajouter 15% de frais administratifs si utilisateur industriel.

Modalités de Réservation :

  • Pour les usagers externes, communiquer avec Galyna Shul ou Gwenaël Chamoulaud.
  • Pour les usagers internes, tous les utilisateurs doivent suivre une formation avec Galyna Shul ou Gwenaël Chamoulaud avant d’utiliser cet équipement. Pour effectuer une réservation en ligne, cliquer sur le lien dans le tableau ci-dessous, puis cliquer sur la journée concernée. Un horaire détaillé de cette journée apparaîtra. Vous pourrez alors réserver la plage horaire qui vous convient.
  • Pour réserver cet équipement à partir de cette page, cliquez ici.